Содержание легирующих элементов в слитках определяется методом индуктивно связанной плазмы — оптической эмиссионной спектрометрии (ЮР-OES) на ICP-спектрометре ЮАР 6500 DUO производства фирмы Thermo Electron Corporation.
ICP-спектромктр ICAP 6500 DUO
ICP-спектромктр ICAP 6500 DUO
Анализаторы газов R0-316, RH-2
Анализаторы газов R0-316, RH-2
Прибор ультразвукового контроля слитков
Прибор ультразвукового контроля слитков
Определение глубины залегания усадочной раковины и других неоднородностей в слитках проводится методом неразрушающего ультразвукового контроля (УЗК) с использованием дефектоскопа УД4-76. Дефектоскоп позволяет определять одиночные дефекты диаметром более 1 мм, а также скопления более мелких дефектов.
Экспресс анализ массовой доли химических элементов в входной шихте и готовых слитках проводится рентгенофлуарисцентным спектрометром «DP-2000» производства фирмы Innov-X Systems, Inc. США.
Обнаружение скрытых дефектов поверхности слитков осуществляется с помощью неразрушающего контроля методом проникающих веществ.
